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SEM(전자현미경)

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SNE-ALPHA

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작성자 최고관리자
댓글 0건 조회 100회 작성일 24-10-27 14:12

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SNE-ALPHA

The Smart Tabletop SEM
  • 고 정밀 Stage Navigation 기능
    1. 오차율 5um 이하 고 정밀 모터
    2. 동급 유일 5축 모터스테이지 기본 탑재
  • 높은 품질 안정성
    1. 높은 필라멘트 안정성 및 수명
    2. 제진 설계를 통한 외부 진동 노이즈 감소
  • 사용자 편의기능 강화
    1. NEW 3세대 소프트웨어 탑재
    2. 도어 닫힘 시 자동 진공설정
    3. Navigation Image 자동 캡쳐
  • 빠른 로딩시간
    1. 진공설정 90초 이내
    2. 진공해제 15초 이내
  • 부가 SW 무상 제공
    1. 대면적 스캔
    2. 3D 랜더링

제품설명

Specfication
Electron System Resolution 5nm (30kV, SE)
Magnification x30 ~ 250,000
Accelerating Voltage 1/5/10/15/20/30 kV(6 step)
Detector Standard : Secondary Electron (SEI) Optional : Back scattered Electron (BSE)
Electron Gun Pre-centered Tungsten filament cartidge
Stage System Stage Traverse X, Y : 40mm / R : 360°, Z : 0~40mm / T : -45~90°
Max. Sample Size up to 80mm (Diameter) up to 40mm (Height)
Image System Automation Function Auto Start, Auto Focus
Image Format BMP, JPEG, PNGM, TIFF
Vacuum System Vacuum Mode High / Low (BSE mode)
Vacuum Pump Rotary Pump + Turbo molecular pump
Dimensions Main Unit 300(W)×460(D)×600(H)mm (78kg)
Controller Unit 256(W)×220(D)×90(H)mm (4kg)
Rotary Pump 400(W)×160(D)×340(H)mm (24kg)
Options

Ion spotter coater

EDS(Bruker)

EDS(Oxford)

Cooling stage

EBSD

Raman

CL

EBIC

NEW 3세대 Nano-eye
획기적으로 개선된 인터페이스

새롭게 적용된 신규 UI로 더욱 간편하게 촬영 환경을 설정해보세요.
최적의 접근성으로 기존 소프트웨어 대비 60% 더 빠른 결과물을 확인할 수 있습니다.
· 더욱 큰 화면, 사용자 친화적 인터페이스 제공

향상된 자동기능

새롭게 추가된 Auto gun align 기능으로 손쉽게 촬영 준비를 마무리하세요.
개선된 Auto Focus 기능으로 원하는 이미지를 더욱 쉽게 촬영할 수 있습니다.

대면적 스캔

더 넓은 영역을 촬영하세요 대면적 스캔 기능은 대형 표본을 이미지화하고 분석하는데 필수적인 단계입니다.
한 장의 SEM이미지로 담을 수 없는 샘플의 더 넓은 영역을 지정해보세요.
대면적 스캔 기능을 사용하면 지정한 영역 내의 여러 위치에서 자동으로 이미지를 획득할 수 있으며,
원하는 배율에서 넓은 영역 분석과 고해상도 분석을 모두 수행할 수 있습니다.

3D 렌더링

새롭게 탑재된 3D 렌더링 기능을 통해 쉽고 간편하게 시료 표면의 입체적인 Roughness를 확인하세요.