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비파괴분석

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X-eye SF160 Series

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작성자 최고관리자
댓글 0건 조회 24회 작성일 24-10-07 14:32

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X-eye SF160 Series

연구분석용 X-Ray CT 검사 장비
X-ray Tube 160 kV / 200 µA (option 160 kV / 500 µA)
Min. Resolution 0.9 µm
Table Size 460 X 510 mm
AXIS X, Y, Z, R, T, Y-AFT
Detector 5 inch FPXD
Foot print Oblique CT / Cone beam CT
Weight 1,340mm x 1,460mm x 1,670mm
edit 제품문의

제품설명

최고 성능을 강조한 X-ray 검사장비

고성능 160kV급 Micro-focus Open Tube를 장착한 장비로 최소 1㎛의 미세한 불량이 검출가능한 검사장비입니다. 고가의 Open Tube를 기본으로 장착함으로써 세계 최고의 배율로 고해상도의X-ray 이미지 획득 할 수 있습니다. 필요 시 Dual CT 기능을 언제든 추가 구성이 가능하며, 이를 통해 정확한 불량의 위치와 크기를 검출하여 분석 할 수 있습니다.

  • 반도체 SMT 및 전자/ 전기 부품 검사를 위한 비파괴 분석 설비
  • Micro-Open Tube 탑재 하여 반영구적 사용 가능
  • Dual CT 기능으로 최상의 CT 이미지 구현 / 고속스캔 지원

BGA Cold Solder

Stacked Die

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